每尊通過鑑定的佛牌均取得 AML 證書，載明編號、發證日期、尺寸重量與實驗室觀察紀錄。
顯微鏡觀察：表面紋理、模具痕跡與鑄造氣孔。X 射線螢光分析（XRF）：非破壞性元素成分測定。掃描電子顯微鏡（SEM）：高倍率結構與腐蝕層觀察。密度測試：尺寸與重量量測、密度計算。
線上查驗服務正在建置中。如需核實某件藏品，請提供其 AML 編號，我們將以證書紀錄與檔案照片回覆核對結果。